11-16 July 2022
Europe/Moscow timezone
For authors of online talks: we will send videoconference links 1 day before the session to e-mail addresses specified in the Registration form

Метод сканирования толщины чувствительного слоя полупроводниковых Si-детекторов

Not scheduled
20m
Физический ф-т, ауд. 5-42

Физический ф-т, ауд. 5-42

Ленинские Горы, д.1, стр. 2
Oral talk (15 min + 5 min questions) Applications of nuclear methods in science and technology

Speaker

Olim Bakhranov (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan)

Description

Важной характеристикой полупроводниковых детекторов, используемых в ядерно-физических исследованиях и в смежных областях является толщина их чувствительного слоя и ее однородность. Особенно важна однородность толщины при использовании полностью обедненных («простреленных») детекторов, когда требуется информация об удельных потерях энергии (например, в $\Delta$Е-Е – методиках идентификации сорта ионизирующих частиц). Существует ряд способы определения толщин [1], в т. числе ядерно-физическими методами, например, по потерям энергии от альфа- и бета – излучателей. Однако при этом есть ограничения по толщине, и метод непригоден только для полностью обедненных детекторов.

При наличии нейтронного генератора и реализованной на нем техники мечения нейтронов существует удобная возможность измерения и сканирования толщины любого детектора чувствительной области по поверхности входного окна, принцип которого понятен из рисунка. При генерации быстрых нейтронов по реакции $d+T \rightarrow n+\alpha$ нейтрон с энергией $\sim$14 МэВ и $\alpha$-частица разлетается приблизительно в противоположном направлении. Регистрация $\alpha$-частицы отдачи под задним углом коллимированным детектором определяет область попадания меченых таким образом нейтронов на поверхность тестируемого детектора. В веществе детектора (в кремнии для Si-детектора) в результате ядерных реакций образуются заряженные частицы, регистрируемые самим тестируемым детектором (см. спектр на рисунке). Например, на спектре обозначен пик, соответствующий регистрации продуктов реакции $^{28}$Si($n,\alpha$)$^{25}$Mg$_{\rm{gr.st.}}$. Если набор спектра реализуется в совпадениях с регистрацией $\alpha$-частицы отдачи, то скорость счета событий $N=N_{\rm{tag}}$ прямо пропорциональна толщине чувствительной зоны детектора в области попадания меченых нейтронов.

Точность определения толщины зависит лишь от статистической обеспеченности в спектрах и от пробега наиболее короткопробежных продуктов реакции. Поскольку этот метод измерения относительный, первоначально производится калибровка сопоставлением со спектром от детектора с известной толщиной чувствительной области. При сканировании производится нормировка на интенсивность нейтронного потока с использованием отдельного мониторного детектора нейтронов. Работоспособность методики была проверена на детекторах различных конфигураций и размеров входного окна.

Литература

  1. S.V. Artemov et al. // Bull. Rus. Acad. of Sci.: Physics, 2009, V.73, No. 4, 502.
The speaker is a student or young scientist Yes
Section 6. Applications of nuclear methods in science and technology

Primary authors

Sergey Artemov (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan) Olim Bakhranov (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan) Dr Olimjon Tojiboev (Institute of Nuclear Physics, 100214 Tashkent, Uzbekistan ) Elbek Ruziev (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan) Akhror Karakhodzhaev (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan) Feruzjon Ergashev (Institute of Nuclear Physics, Academy of Sciences of Uzbekistan) Sali Radjabov (PHYSICAL-TECHNICAL INSTITUTE NGO "PHYSICS-SUN", ASUz)

Presentation Materials